综合概述

SM500测试笔采用表面光电压技术，能够快速、无损伤测定样品PN型号。

SM500采用表面光电压法测量PN类型。半导体材料的表面势垒的极性表征了材料类型。表面势垒的极性可以通过一种非接触式表面光电压的测量方法测得。该方法使用一斩波激光削减了表面势垒。光照射引起的势垒变化通过一个表面耦合电容探头测得。PN型号是由光照射产生的表面势垒的变化的极性推得的。

SM500测试笔内置锂电池，使用BQ27520电源管理芯片，USB接口充电，单次充满电可测试次数高达15000次。

产品特征

l 便携式，无接触PN型号测试笔

l 基于表面光电压法测试原理，注入深度为5μm

l 无需样品预处理

l 任意形状样品PN型号

l 测试电阻率范围：＞20 m.ohm

l 测试时间：0.5s

l 采用双色LED显示测试结果

l 内置锂电池，续航测量次数>1万次

产品应用

l 多晶硅提纯/铸锭，直达单晶，切片，电池片生产

l 可测量任意形状单多晶硅样品